牛津儀器推出手持式硅漂移探測(cè)器X射線熒光分析儀

　　  新的  X  射線熒光  (XRF)  分析儀  X-MET5100  將手持式儀器的分析性能提高到全新水平。 
 
  　　X-MET5100  將牛津儀器的硅漂移探測(cè)器  (SDD)  和強(qiáng)大的  45  千伏  X  射線管結(jié)合起來(lái)，顯示了儀器設(shè)計(jì)上的革命性突破。這種技術(shù)提供了快速、高精度的測(cè)量，并且無(wú)需借助復(fù)雜的真空泵或氦氣罐等附屬設(shè)備就可以對(duì)鎂、鋁、硅等輕元素進(jìn)行測(cè)量，這實(shí)在是手持式  X  射線熒光  (XRF)  分析的一大飛躍。 
 
  　　PMI  檢測(cè)行業(yè)、廢舊金屬回收行業(yè)、特別是航空工業(yè)終于擁有了他們一直期待的堅(jiān)固的便攜式  XRF  輕元素測(cè)試工具。X-MET5100  保證了鋁及鈦合金的實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量分析的性，它對(duì)檢測(cè)銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時(shí)的敏感性也是的。 
 
  　　硅漂移探測(cè)器  (SDD)、45  千伏  X  射線管和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)分析方法的強(qiáng)大結(jié)合，意味著  X-MET5100  可以在短短  1  秒鐘內(nèi)，準(zhǔn)確地分析和確定金屬合金成分。受限物質(zhì)（重金屬元素）、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質(zhì)可以得到準(zhǔn)確測(cè)量，其速度之快，在從前是*可能的。在幾秒鐘之內(nèi)，就可以得到  ppm  級(jí)的痕量元素檢測(cè)結(jié)果。X-MET5100  的速度和準(zhǔn)確性確保了可靠的實(shí)時(shí)檢測(cè)結(jié)果。 
 
  　　X-MET5100  是牛津儀器用于日常多元素分析的  X-MET5000  的升級(jí)產(chǎn)品，后者于今年早些時(shí)候成功推出。這兩款儀器都符合  IP54  (NEMA  3)  防塵防水認(rèn)證要求，能夠承受zui苛刻的工作條件。 
 
  　　X-MET5100  已于  9  月在拉斯維加斯鈦展覽會(huì)和埃森世界鋁貿(mào)易博覽會(huì)上成功展出。預(yù)計(jì)將于2008  年11  月11  日至13  日在北京會(huì)議中心舉行的2008（第五屆）  礦業(yè)博覽會(huì)上在展出。 
 
 

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